¸ðÁý Á÷¹« |
Á÷¹« ¼ÒºÐ·ù |
±Ù¹«ÇüÅ | ±¸ºÐ | ´ã´ç¾÷¹« | Çз | Àü°ø | ºñ°í | ±Ù¹«Áö | ¸ðÁýÀοø |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Ç°Áúº¸Áõ | Á¤±ÔÁ÷ | °æ·Â (3³â ÀÌ»ó) |
• LQC °øÁ¤¿¹¹æ°ü¸® - LQC ÀÌ»ó ¹ß»ý ½ÃÁ¤ Á¶Ä¡ - ³»ºÎ Audit °ü¸® • OQC ÃâÇÏ°ü¸® -Á¦Ç°Ç°Áú °Ë»ç / ºÐ¼® • Ç°Áú°æ¿µ½Ã½ºÅÛ ÀÎÁõ ¾÷¹« -IATF16949 / ISO14001 ÀÎÁõ ¹× Ç¥ÁØ °ü¸® |
´ëÁ¹(4³â) ÀÌ»ó | ÈÇаøÇÐ/Àç·á°øÇÐ/»ê¾÷°øÇÐ/Åë°èÇÐ | [¿ì´ë »çÇ×] • ÈÇÐ/¼ÒÀç Á¦Á¶¾÷ ±Ù¹« °æ·ÂÀÚ • Ç°Áú°ü·Ã ÀÚ°ÝÁõ ¼ÒÁöÀÚ |
±¸Áö | 0 | |
ºÐ¼® | Á¤±ÔÁ÷ | °æ·Â (3³â ÀÌ»ó) |
• ¾ç±Ø ¼ÒÀç Ư¼º ºÐ¼® - ±âº» ¼ººÐ ºÐ¼® - Ç¥¸é ºÐ¼® ¹× ±¸Á¶ ºÐ¼® • ºÐ¼®½Ç °ü¸® - ºÐ¼® ±â±â ¹× Àοø °ü¸® |
´ëÁ¹(4³â) ÀÌ»ó | ÀÌ°ø°è¿ | [Áö¿ø ÀÚ°Ý] • °æ·Â : ±â±âºÐ¼® °æ·Â 3³â ÀÌ»ó [¿ì´ë »çÇ×] • ±â±âºÐ¼® °ü·Ã Àü°ø ¼®/¹Ú»ç ÇÐÀ§ • Ç°Áú°ü·Ã ÀÚ°ÝÁõ ¼ÒÁöÀÚ • ºÐ¼®±â°ü ±Ù¹« °æ·ÂÀÚ • XPS, TEM/EELS, Nano-SIMS, NMR, XRD, FTIR, RamanµîÀÇ Àåºñ ¿î¿µ ¹× Data Çؼ® °¡´ÉÀÚ |
±¸Áö | 0 | |
°øÁ¤±â¼ú | Á¤±ÔÁ÷ | ¹«°ü | • ½ÅÁ¦Ç° Ç°Áú ¾ÈÁ¤È • Á¦Ç° Ç°Áú Çâ»ó • ¿ø°¡Àý°¨ ¹× »ý»ê¼º Çâ»ó • °øÁ¤°³¼± ¹× °øÁ¤ ÃÖÀûÈ • Trouble shooting • Ç¥ÁØ °ü¸® |
´ëÁ¹(4³â) ÀÌ»ó | ÈÇаøÇÐ/Àç·á°øÇÐ °ü·Ã Çаú | [¿ì´ë »çÇ×] • ¸®Æ¬ÀÌÂ÷ÀüÁö/¾ç±ØÈ°¹°Áú °æÇèÀÚ • ÈÇÐ/¼ÒÀç Á¦Á¶¾÷ ±Ù¹« °æ·ÂÀÚ • 6½Ã±×¸¶ GB ÀÌ»ó ¼ö·áÀÚ • °øÇÐÀÎÁõ À̼ö ¿ì´ë, ¼®»ç ¿ì´ë |
±¸Áö | 0 | |